Сканирующий микроскоп FEI MLA 650 FEG

• Обзор
• Характеристики
• Отзывы0

MLA 650 FEG создан на базе сканирующего электронного микроскопа Quanta 650 FEG с двумя предустановленными EDS-спектрометрами автоматизированная высокопроизводительная система для анализа минералов. Используя интегрированное оборудование и мощное специализированное программное обеспечение, данные микроскопы способны определять большинство минералов. Это единственные системы в мире, для которых возможен полностью автоматизированный анализ петрографических образцов.

Характеристики Особенности Режим естественной среды (ESEM™)  Два энергодисперсионных рентгеновских спектрометра с кремниевыми дрейфовыми детекторами (EDS)  Программное обеспечение QEMSCAN и ПО для сканирования и обработки сигнала (eSCAN и eXRAY),  Петрографический анализатор (анализ состава и структуры)  Основа: сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом  Минеральная классификация с помощью алгоритмов элементного анализа (SIP)  Высокая скорость (до 200 измерений в секунду)  Возможность автоматического анализа  Возможность проведения количественного анализа  Возможность анализа отдельных частиц  Шаблоны отчетов для различных отраслей промышленности: нефтегазовой, горнодобывающей и т.д.  Наименьший размер исследуемой частицы: 1 мкм  Годовая подписка предусматривает всестороннюю поддержку и лицензию на обновление программного обеспечения Характеристики электронной пушки Высокий вакуум - 0,8 нм при 30 кВ (STEM)* - 1,2 нм при 30 кВ (SE)* - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 1 кВ (SE)  Высокий вакуум в режиме торможения пучка - 3,0 нм при 1 кВ (режим BD* + BSE*) - 2,3 нм при 1 кВ (режим BD* + ICD*) - 3,1 нм при 200 В (режим BD* + ICD*)  Низкий вакуум - 1,4 нм при 30 кВ (SE) - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 3 кВ (SE) • Режим естественной среды (ESEM) - 1,4 нм при 30 кВ (SE)   Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ  Напряжение у поверхности образца: - Номинальное значение: от 200 В до 30 кВ - В режиме замедления пучка*: от 20 В до 30 кВ • Ток зонда: ≤200 нA с плавной регулировкой  Увеличение: 14–1 000 000 x Предметный столик Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм  Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм  Поворот: n x 360°  Наклон: -15° / +70°  Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний Рабочая камера Ширина: 379 мм  Аналитическое рабочее расстояние 10 мм  Количество портов: 8  Угол выхода для детектора EDS: 35° Детекторы EDS (энергодисперсионная система)  Безазотные кремниевые дрейфовые детекторы  Активная площадь детектирования: 2 x 30 мм2  Разрешение по энергии: ≤ 133 В  Средняя скорость счета: 800 000 имп/c  Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли  Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD)  Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM) ИК-камера для контроля положения образца в камере  Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу*  Направленный детектор обратно отраженных электронов (DBS)*  Газовый аналитический BSED (GAD)*  Детектор прошедших электронов (STEM)*  Внутриколонный детектор (ICD) для режима торможения пучка*  Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM*  Cсцинтиллятор BSED/CLD*  vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)*  Измерение тока электронного пучка* Вакуумная система 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос)  Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу  Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм  Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу  Вакуумная камера (высокий) < 6e–4 Па  Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па  Режим ESEM < 10–2600 Па  Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI Дополнительные аналитические возможности Отчетность  3D диаграммы  2D диаграммы  XY диаграммы  Модальный анализ  Изображение частиц  Отчеты о степени свободы минералов  Тройные диаграммы  Ратификация данных  Перевод данных в формат таблицы  Растр – градуирует измерение по X и Y осям с целью визуализации геометрических свойств зерен и их расположения  Intercept length distribution - распределение длин отрезков  Минеральные ассоциации  Анализ восстановления  Теоретическое соотношение :содержание/извлечение  Индивидуальная настройка отчетов  Drill down reports - Детальные отчеты  Экспорт данных и изображений  Интерактивные сводки  Набор установок, которые распределяют измеренные частицы на категории: - По минеральному составу - По элементному составу - По полученным значениям - Простые и комплексные частицы Управление системой Источники данных могут анализироваться отдельно, вместе взятых, или по сравнению  Расчеты: свойства элементарных частиц  свойства зерна  Режимное минералогии  Анализ - рассчитывается из минеральных композиций  Элементарный распределение по минералов  Восстановление полезных ископаемых оценка  Восстановление класса Element  Распределение частиц по размерам - Минеральное распределение зерен по размерам - Распределение плотности частиц - Минеральные ассоциации - Минеральное замок - ОУМР - фаза удельная площадь поверхности - Минеральное освобождение от состава частиц - Минеральное освобождение от свободной поверхности  Составление отчетов - Шаблоны - используемые для настройки и запустить серию расчетов, могут быть экспортированы в различные форматы, включая Excel, Word, текст и базы данных - Экспорт Буфер обмена - DataSource фильтры - Предустановленные и пользовательские классы освободительные - Минеральные группировки - Просмотр, сортировать и фильтровать изображения частиц в пределах определенного источник данных Получение изображений Разрешение до 6144 x 4096 пикселей  Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG  Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах  4-квадранта, прямая трансляция  Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого • усреднение или интегрирование 256 кадров  Запись цифрового видеоизображения (.avi)  Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение Доступные программные функции Системный менеджер MLA - SEM и EDS интерфейс и лицензирование  MLA мера - модуль сбора данных, включает в себя уведомление по электронной почте при запуске завершении или прерывании  MLA Редактор справочника минералов - позволяет создавать и изменять записанные в справочник минералы и стандарты  MLA обработчик изображений - модуль анализа данных  MLA инструмент передачи данных - модуль управления проектами и данными  MLA DataView - выборка из базы данных и модуль отчетов  Встроенная база данных с Рентгеновскими спектрами минералов и данных о свойствах более 500 минералов  Минеральные свойства: индекс, название, присвоенный цвет (в петрографическом изображении), плотность, средний атомный номер, химическая формула, элементный состав, опорный спектр СЭД  Пользователь может добавлять минеральные стандарты  Возможность простого перемещения минеральных стандартов от одного файла стандарта в другой  микширование  Спектр: спектры из различных минералов могут быть смешаны используя различные пропорции для создания псевдо-спектров, которые могут быть добавлены в файл минеральных стандартов, для решения проблем с границами фаз (где объем взаимодействия EDX распространяется через границы минерала)  Калькулятор состава: элементный состав можно рассчитать от химических формул и автоматически обновлять свойства минералов Системные опции Торможение пучка  Ручной пользовательский интерфейс  Вспомогательный ПК (включая второй 24-дюймовый монитор)  Блок переключателей с программным управлением  Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением  Система WetSTEMTM с программным управлением  Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением  Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением  Система криогенной очистки Cryocleaner  Запасная ёмкость для Cryocleaner  Газоинжекционные системы (GIS): до 2 устройств (другие виды вспомогательного оборудования могут накладывать ограничения на количество доступных газоинжекционных систем) для индуцированного электронным пучком осаждения следующих материалов: - Платина - Вольфрам - Углерод  Прототипирование: интегрированное 16-битное приложение для формирования изображения, электронно-лучевая литография  Джойстик  AAS (автоматическая система настройки апертуры)  Измеритель тока образца  Программное обеспечение для дистанционного управления  Комплект держателей образцов  Акустический чехол для вакуумного насоса  7- или 52-контактный электрический вывод  Электростатический бланкер пучка  Комплект оснащения системой WDS  Опциональная безмасляная система предварительного вакуума по дополнительному заказу (двойные спиральные вакуумные насосы)  Встроенная система плазменной очистки Требования по установке Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %)  Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации  Сопротивление заземления: < 0,1 Ом  Условия эксплуатации: температура 20 °C +/– 3 °С, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением < 40 нТ асинхронные поля < 300 нТ синхронные поля  Ширина дверного проёма: 90 см  Вес микроскопа с колонной: 530 кг  Вес: электронного блока управления: 139 кг  Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования)• Сжатый воздух 4–6 бар — чистый, сухой, безмасляный  Охладитель системы требуется лишь в том случае, если условия в помещении не соответствуют техническим условиям, приведённым в руководстве по предварительной установке  Уровень шума: <68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр)  Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола)  Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу

Производитель

«FEI Company», США

Сканирующий микроскоп FEI MLA 650 FEG отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий