Ваш город:
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
ВЕЛМАС
  • Санкт-Петербург, БЦ «Металлист», наб. Обводного канала д. 150, оф. 519
  • 8-812-424-18-63
  • 8-800-250-18-63
  • Whatsapp
    Telegram

    Пишите нам через WhatsApp или Telegram и получайте мгновенный ответ в чате!

    +79112780168


    - Уточняйте цены на оборудование и услуги

    - Узнавайте о наличии товара на ближайшем складе

    - Запрашивайте информацию об актуальных акциях и спецпредложениях

0
Санкт-Петербург, БЦ «Металлист», наб. Обводного канала д. 150, оф. 519
Пн-Пт: с 9:00 до 18:00
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
Каталог товаров
Каталог товаров
Еще категории
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
Производитель«FEI Company», США
Под заказ
Артикул: art25221:qemscan650feg
Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.
Цена по запросу
-+Купить
Запросить КП
Запросить видеодемонстрацию прибора
  • Обзор
  • Характеристики
  • Отзывы0
«FEI Company», США

Qemscan 650 FEG - лабораторный автоматический анализатор для петрографических исследований, изначально разработанный для горнодобывающей промышленности Содружеством по Научным и Промышленным Исследованиям (Австралия). Благодаря своей функциональности в минералогических, петрологических и металлургических исследованиях, эта система нашла широкое применение в научных и промышленных областях. В горнодобывающей промышленности система используется для характеризации руды, а так же для оптимизации технологического процесса и сокращения издержек. Нефтегазовые и сервисные компании используют QEMSCAN для анализа керна и бурового шлама (автоматического определения литотипа, получения информации о пористости образца и т.п.)

Характеристики

Особенности • Сканирующий электронный микроскоп с режимом естественной среды (ESEM™) • Два энергодисперсионных рентгеновских спектрометра с кремниевыми дрейфовыми детекторами (EDS) •Программное обеспечение QEMSCAN и ПО для сканирования и обработки сигнала (eSCAN и eXRAY), • Петрографический анализатор (анализ состава и структуры) • Основа: сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом • Минеральная классификация с помощью алгоритмов элементного анализа (SIP) • Высокая скорость (до 200 измерений в секунду) • Возможность автоматического анализа • Возможность проведения количественного анализа • Возможность анализа отдельных частиц •Шаблоны отчетов для различных отраслей промышленности: нефтегазовой, горнодобывающей и т.д. • Наименьший размер исследуемой частицы: 1 мкм • Годовая подписка предусматривает всестороннюю поддержку и лицензию на обновление программного обеспечения
Характеристики электронной пушки • Высокий вакуум - 0,8 нм при 30 кВ (STEM)* - 1,2 нм при 30 кВ (SE)* - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 1 кВ (SE) • Высокий вакуум в режиме торможения пучка - 3,0 нм при 1 кВ (режим BD* + BSE*) - 2,3 нм при 1 кВ (режим BD* + ICD*) - 3,1 нм при 200 В (режим BD* + ICD*) • Низкий вакуум - 1,4 нм при 30 кВ (SE) - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 3 кВ (SE) • Режим естественной среды (ESEM) - 1,4 нм при 30 кВ (SE) • Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ • Напряжение у поверхности образца: - Номинальное значение: от 200 В до 30 кВ - В режиме замедления пучка*: от 20 В до 30 кВ • Ток зонда: ≤200 нA с плавной регулировкой • Увеличение: 14–1 000 000 x
Предметный столик Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +70° Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний
Рабочая камера • Ширина: 379 мм • Аналитическое рабочее расстояние 10 мм • Количество портов: 8 • Угол выхода для детектора EDS: 35°
Детекторы EDS (энергодисперсионная система) • Безазотные кремниевые дрейфовые детекторы • Активная площадь детектирования: 2 x 30 мм2 • Разрешение по энергии: ≤ 133 В • Средняя скорость счета: 800 000 имп/c • Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли • Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD) • Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM) • ИК-камера для контроля положения образца в камере • Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу* • Направленный детектор обратно отраженных электронов (DBS)* • Газовый аналитический BSED (GAD)* • Детектор прошедших электронов (STEM)* • Внутриколонный детектор (ICD) для режима торможения пучка* • Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM* • Cсцинтиллятор BSED/CLD* • vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)* • Измерение тока электронного пучка*
Вакуумная система • 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос) • Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу • Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм • Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу • Вакуумная камера (высокий) < 6e–4 Па • Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па • Режим ESEM < 10–2600 Па • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI
Дополнительные аналитические возможности Отчетность •3D диаграммы •2D диаграммы •XY диаграммы •Модальный анализ •Изображение частиц •Отчеты о степени свободы минералов •Тройные диаграммы •Ратификация данных •Перевод данных в формат таблицы •Растр – градуирует измерение по X и Y осям с целью визуализации геометрических свойств зерен и их расположения •Intercept length distribution - распределение длин отрезков •Минеральные ассоциации •Анализ восстановления •Теоретическое соотношение :содержание/извлечение •Индивидуальная настройка отчетов •Drill down reports - Детальные отчеты •Экспорт данных и изображений •Интерактивные сводки •Набор установок, которые распределяют измеренные частицы на категории: - По минеральному составу - По элементному составу - По полученным значениям - Простые и комплексные частицы
Управление системой •Filter – позволяет выделять частицы на основе заданного признака •Boundary phase processor - специальный алгоритм для анализа границ раздела зерен •Touching particles - разделяет соприкасающиеся частицы •Segment Line – алгоритм разделения частиц •Binary Erode / Dilate •Binary Open / Close - устраняет лишние пиксели и заполняет недостающие по периметру частиц •Linear intercepts processor – процессор линейных отрезков –делит зерно на отдельные линии с шагом в 1 пиксель •Field stitch processor – стыковка полей частиц •Particulate processor – идентификация и отделение несоприкасающихся частиц •Granulator processor – выделение зерен отдельных минералов и их перекомпоновка •Gangue buster processor – алгоритм выделения фона •Particle manager – позволяет создавать серию процессов, которые могут применяться к набору измерений •Marking bad particles – выделяет и маркирует «плохие» частицы и убирает информацию о них из вычислений •Editing particles - опция для ручного исправления ошибок в измерениях
Получение изображений • Разрешение до 6144 x 4096 пикселей • Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах • 4-квадранта, прямая трансляция • Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого • усреднение или интегрирование 256 кадров • Запись цифрового видеоизображения (.avi) • Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение
Доступные программные функции Комплект программного обеспечения QEMSCAN •iMeasure •iDiscover - Datastore Explorer - iExplorer - SIP editor SBH - SBH editor - Measurement designer - Datastore Режимы измерения •BMA – анализ крупногабаритного минералогического образца •PMA – почастичный минералогический анализ •SMS/TMS – поиск редких фаз и примесей •Field Scan – получение петрографических изображений больших областей iMeasure •Обработка полученных данных •Работа с исходными данными: изображение в отраженных электронах и спектральные данные для каждого измерения •Добавление данных – данные новых измерений могут быть добавлены в базу ранее полученных данных о изучаемом образце •SMS уведомление о законченном или приостановленном процессе •Журнал используемых инструментов SIP editor •Два стандартных алгоритма: для минералогических исследований руд и нефтегазовых резервуаров •Spectra import – импорт файлов данных о спектре *.ems или *.msa •Spectra library - содержит все импортированные данные спектров для SIP, используется для создания новых записей SIP •Synthetic spectrum builder - создает синтетические спектры •Simustat tests – обеспечивает моделирование спектральной чувствительности для получаемых спектральных данных, используется для тестирования SIP •Measurement debugger – настройка измерений
Системные опции • Торможение пучка • Ручной пользовательский интерфейс • Вспомогательный ПК (включая второй  24-дюймовый монитор) • Блок переключателей с программным управлением • Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением • Система WetSTEMTM с программным управлением • Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением • Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением • Система криогенной очистки Cryocleaner • Запасная ёмкость для Cryocleaner • Газоинжекционные системы (GIS): до 2 устройств (другие виды вспомогательного оборудования могут накладывать ограничения на количество доступных газоинжекционных систем) для индуцированного электронным пучком  осаждения следующих материалов: - Платина - Вольфрам - Углерод • Прототипирование: интегрированное 16-битное приложение для формирования изображения, электронно-лучевая литография • Джойстик • AAS (автоматическая система настройки апертуры) • Измеритель тока образца • Программное обеспечение для дистанционного управления • Комплект держателей образцов • Акустический чехол для вакуумного насоса • 7- или 52-контактный электрический вывод • Электростатический бланкер пучка • Комплект оснащения системой WDS • Опциональная безмасляная система предварительного вакуума по дополнительному заказу (двойные спиральные вакуумные насосы) • Встроенная система плазменной очистки
Требования по установке • Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) • Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации • Сопротивление заземления: < 0,1 Ом • Условия эксплуатации: температура 20 °C +/– 3 °С, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным  напряжением < 40 нТ асинхронные поля < 300 нТ синхронные поля • Ширина дверного проёма: 90 см • Вес микроскопа с колонной: 530 кг • Вес: электронного блока управления: 139 кг • Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования)• Сжатый воздух 4–6 бар — чистый, сухой, безмасляный • Охладитель системы требуется лишь в том случае, если условия в помещении не соответствуют техническим условиям, приведённым в руководстве по предварительной установке • Уровень шума: <68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр) • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола) • Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу
Производитель«FEI Company», США

Сканирующий электронный микроскоп Qemscan 650 FEG отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий

ВЕЛМАС
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
Санкт-Петербург, БЦ «Металлист», наб. Обводного канала д. 150, оф. 519
Пн-Пт: с 9:00 до 18:00
Каталог товаров