Сканирующий электронный микроскоп Quanta 250

Name: Сканирующий электронный микроскоп Quanta 250
SKU: art25209:quanta250

Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием

Полное описание

Производитель

«FEI Company», США

Под заказ

Артикул: art25209:quanta250

Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.

Цена по запросу

0 руб.

-+Купить

Запросить КП

Запросить видеодемонстрацию прибора

Обзор
Характеристики
Отзывы0

Quanta 250 – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами. Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Quanta не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами.

Характеристики

собенности	• Высокопроизводительная термоэмиссионная колонна SEM с двуханодной геометрией электронной пушки • Неподвижная апертура объектива для простоты эксплуатации • Линза объектива 45° с дифференциальной откачкой через линзу и подогреваемые апертуры объектива • Максимальная ширина поля зрения: 6,5 мм при аналитическом рабочем расстоянии (10 мм); 11,3 мм при рабочем расстоянии 25 мм Нанохарактеризация • Металлы и сплавы, окисление/коррозия, трещины, сварные швы, шлифы, магнитные и сверхпроводящие материалы • Керамики, композитные материалы, пластмассы • Плёнки/покрытия • Петрографические шлифы, минералы • Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, растительные материалы • Частицы, пористые материалы, волокна Нанопроцессы in situ • Гидратация/дегидратация • Анализ поведения материала при увлажнении/контактного угла • Окисление/коррозия • Предел прочности при растяжении (при нагреве или охлаждении) • Кристаллизация/фазовый переход Нанопрототипирование • Электронно-лучевая литография (EBL) • Осаждение, индуцированное электронным пучком (EBID)
Характеристики электронной пушки	• Высокий вакуум - 3,0 нм при 30 кВ (SE) - 4,0 нм при 30 кВ (BSE)* - 8,0 нм при 3 кВ (SE) • Высокий вакуум в режиме торможения пучка - 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD) • Низкий вакуум - 3,0 нм при 30 кВ (SE) - 4,0 нм при 30 кВ (BSE) - 10,0 нм при 3 кВ (SE) • Режим естественной среды (ESEM) - 3,0 нм при 30 кВ (SE) • Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ • Ток зонда: до 2 мкА с плавной регулировкой • Увеличение: 13–1 000 000 x
Предметный столик	Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 50 x 50 мм Моторизованное перемещение по оси Z: 50 мм (25 мм моторизованный) Воспроизводимость результатов: 2 мкм Вцентрический наклон на высоте, оптимальной для решения аналитических задач: 10 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +75°
Рабочая камера	• Ширина: 284 мм • Аналитическое рабочее расстояние 10 мм • Количество портов: 8 • Угол выхода для детектора EDS: 35°
Детекторы	• Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли • Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD) • Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM) • Высокочувствительный низковольтный детектор обратно отраженных электронов SS-BSEDИК-камера для контроля положения образца в камере • Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM • 4-квадрантный твердотельный детектор обратно отраженных электронов* • Cсцинтиллятор BSED/CLD* • vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)* • Измерение тока электронного пучка* • Газовый аналитический BSED (GAD)* • Детектор прошедших электронов (STEM)* • Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу*
Вакуумная система	• 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос) • Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу • Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм • Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу • Вакуумная камера (высокий) < 6e–4 Па • Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па • Режим ESEM < 10–4000 Па • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI)
Дополнительные аналитические возможности	• EDS • WDS • EBSD • Криостолик • Катодолюминесценция • Прибор для измерения малых токов образца • Наноманипуляторы • Системы для литографии • CAD-навигация • Электрическое зондирование
Управление системой	• 32-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows®XP, клавиатура, оптическая мышь • Один 19-дюймовый ЖК-монитор, SVGA 1280 x 1024 • MagicSwitchTM (переключатель, контролируемый с ПК)* • Джойстик* • Ручной пользовательский интерфейс*
Получение изображений	• Разрешение до 4096 x 3536 пикселей (≈14Mpix) • Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах • 4-квадранта, прямая трансляция • Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого • усреднение или интегрирование 256 кадров • Запись цифрового видеоизображения (.avi) • Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение
Доступные программные функции	• Технология сканирования SmartSCAN • Автоматическая сшивка изображений • Программное терморегулирование • Интервальное получение изображений в 1–4 квадрантах • Функция сохранения нескольких изображений • Программная утилита FEI Movie Creator (создание специального .avi-файла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений) • Функциональные возможности большого окна изображения (отображает изображение на отдельном мониторе, обеспечивает возможность отображения двух полноэкранных изображений, полученных от различных детекторов)
Системные опции	• Торможение пучка • Ручной пользовательский интерфейс • Вспомогательный ПК (включая второй 19-дюймовый монитор) • Блок переключателей с программным управлением • Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением • Система WetSTEMTM с программным управлением • Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением • Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением • Система криогенной очистки Cryocleaner • Запасная ёмкость для Cryocleaner • Джойстик • Измеритель тока образца • Программное обеспечение для дистанционного управления • Комплект держателей образцов • Акустический чехол для вакуумного насоса • 7- или 52-контактный электрический вывод • Электростатический бланкер пучка • Комплект оснащения системой WDS • Монтажный комплект для спирального форвакуумного насоса • Вспомогательный газовый набор (для газов вместо воды)
Требования по установке	• Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) • Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации • Сопротивление заземления: < 0,1 Ом • Условия эксплуатации: температура (+15…+25) °C, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением < 100 нТ асинхронные поля < 300 нТ синхронные поля • Ширина дверного проёма: 90 см • Вес микроскопа с колонной: 450 кг • Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования) • Уровень шума: <68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр) • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола) • Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу