- Главная
- Материалография и пробоподготовка
- Электронные микроскопы
- Сканирующий электронный микроскоп SM-32
Сканирующий электронный микроскоп SM-32
- Обзор
- Характеристики
- Отзывы0
Микроскоп SM-32 имеет электронную пушку с двойным анодом (опция), оснащен термоэмиссионным вольфрамовым катодом и современными сверхчувствительными детекторами, что обеспечивает высокую разрешающую способность (до 3 нм) и прекрасный контраст изображения. Два вакуумных режима, высокий и низкий (до 1000 Па), позволяют анализировать практически любые образцы, в том числе газящие и непроводящие, без какой-либо пробоподготовки. Уникальное сочетание невысокой стоимости, универсальности и набора разнообразных детекторов и опций делает SM-32 идеальным решением для исследований в любой области науки и производства.
Основные преимущества:
- уникальная конструкция пушки с двойным анодом (опция) значительно улучшает разрешение и качество изображения при низком ускоряющем напряжении;
- режим низкого вакуума позволяет получать изображения непроводящих и газящих образцов;
- большая рабочая камера;
- навигационная камера уже в базовой комплектации; системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.
Технические характеристики
Тип микроскопа | Сканирующий |
Характеристики электронной пушки: | |
Тип катода | Термоэмиссионный (вольфрамовый) |
Тип предметного столика: | |
Пятиосевой моторизованный | Есть |
Двухосевой моторизованный | Нет |
Максимальный вес образца, г | 5 000 |
Максимальный диаметр образца, мм | 250 |
Ход по осям X и Y, мм | 120 × 115 |
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм | < 2,0 |
Ход по оси Z, мм | 50 |
Поворот, град. | 360 |
Наклон, град. | –10/+90 |
Ширина камеры, мм | 340 |
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт. | 13 |
Детекторы: | |
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли | Есть |
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере | Есть |
Навигационная камера высокого разрешения | Есть |
Интегрированная система измерения тока луча | Опция |
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) | Опция |
Внутрилинзовый детектор | Нет |
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) | Опция |
Детектор прошедших электронов (STEM) | Нет |
Детектор для катодолюминесценции (CL) | Опция |
Детектор Raman | Опция |
ЭДС | Опция |
ДОРЭ | Опция |
ВДС | Опция |
Режимы вакуума: | |
Высокий вакуум, Па | < 5,0 × 10-4 |
Низкий вакуум, Па | 1000 |
Безмасляная вакуумная система | Опция |
Дополнительное оборудование: | |
Литография | Нет |
Крио-СЭМ | Опция |
Манипулятор | Опция |
Зондовые станции | Опция |
Панель управления микроскопом | Опция |
Трекбол | Опция |
Столик для охлаждения | Опция |
Столик для нагрева | Опция |
Столик для растяжения/сжатия | Опция |
Вакуумный шлюз | Опция |
Функция замедления пучка | Нет |
Внесен в госреестр | Не внесен |
Производитель | «Melytec», Россия |
Сканирующий электронный микроскоп SM-32 отзывы
Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий