Оптические микроскопы в Санкт-Петербурге и области

​Инвертированный микроскоп 4XB предназначен для визуального наблюдения и контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле, а также в поляризационном свете.

Металлографический микроскоп 4XC предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете.

Автоматическая система B.O.S.S. (Brinell Optical Scanning System) для определения твердости по Бринеллю включает в себя сканирующую видеоголовку и программное обеспечение для передачи изображения, позволяющее проводить быстрые, точные и согласованные измерения отпечатков по Бринеллю. Акустическая...

Микроскопы серии HiLight располагают светодиодным источником света высокой интенсивности, обеспечивающим превосходный контраст при измерении отпечатков по Бринеллю. Объектив с 20-кратным увеличением и узкая головка объектива идеальны для суженных мест измерения. Функция „Auto-Motion“ увеличивает...

Система анализа изображений SIAMS 800 - первый сетевой панорамный анализатор изображений российского производства, внесен в Госреестр СИ и имеет свидетельство об утверждении типа и свидетельство об аттестации программного обеспечения средств измерений.

В7-ММП микроскоп предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле и поляризованном свете.

Обновленный модельный ряд измерительных микроскопов Soptop MS включает четыре модификации, отличающиеся размером измерительного стола. Микроскоп предназначен для контроля геометрии инструмента, деталей и микроэлектронных компонентов.

Инвертированный микроскоп ICX41M обеспечивает возможность наблюдения в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля, поляризации, ДИК.

Инвертированный микроскоп Olympus GX-41 — универсальное оборудование, набор функций которого позволяет осуществлять весь спектр металлографических работ. При этом прибор компактен и удобен в эксплуатации.

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Прямой инспекционный микроскоп MX12R отличается увеличенным рабочим пространством, возможностью установки моторизованного стола с ходом 306 × 306 мм с точностью позиционирования 3 + L/50.

Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент.

MX61/MX61L — полупроводниковый инспекционный микроскоп, специально разработанный для исследования подложек и плат

Новейшая разработка в области лазерной конфокальной микроскопии.

Микроскоп может быть использован в различных областях промышленности, науки и образования с целью:Светлое поле, упрощенная поляризация.

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением...

Микроскоп отсчётный тип МПБ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскоп должен эксплуатироваться при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150-69: температура 25±10 0С, относительная...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20,...

Микроскоп отсчётный тип МПБ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскоп должен эксплуатироваться при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150-69: температура 25±10 0С, относительная...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20,...

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Используя BX53P можно проводить исследования как в проходящем, так и в отраженном свете по методам орто- и коноскопии, используя все возможности серии BX3M и широкий набор компенсаторов.

Микроскоп CX31P является бюджетным решением и позволяет проводить исследования только в проходящем свете.

Поляризационный микроскоп CX40P предназначен для исследований в области геологии, минералогии, петрографии и т. д. Опционально микроскоп может быть укомплектован модулями для исследований по методам орто- и коноскопии.

Портативный микроскоп необходим при исследовании/инспектировании крупногабаритных объектов, или иных объектов, из которых нельзя изъять образцы для исследования на стационарном микроскопе.

Портативный микроскоп необходим при исследовании/инспектировании крупногабаритных объектов, или иных объектов, из которых нельзя изъять образцы для исследования на стационарном микроскопе.

Прямые микроскопы серии RX50 предназначены для наблюдения в отраженном и проходящем свете. В зависимости от комплектации микроскоп Soptop RX50 может быть использован в биологии, медицине, материаловедении и микроэлектронике. Доступные методы контрастирования — светлое поле, темное поле,...

Прямые микроскопы предназначены для проведения исследований в прямом и/или отраженном свете. Общий диапазон увеличений зависит от модели микроскопа и варьируется от 12,5 до 1500 крат (в отдельных случаях до 3000 крат).

Прямые микроскопы предназначены для проведения исследований в прямом и/или отраженном свете. Общий диапазон увеличений зависит от модели микроскопа и варьируется от 12,5 до 1500 крат (в отдельных случаях до 3000 крат).