Оптические микроскопы в Санкт-Петербурге и области

Автоматическая система B.O.S.S. (Brinell Optical Scanning System) для определения твердости по Бринеллю включает в себя сканирующую видеоголовку и программное обеспечение для передачи изображения, позволяющее проводить быстрые, точные и согласованные измерения отпечатков по Бринеллю. Акустическая...

Микроскопы серии HiLight располагают светодиодным источником света высокой интенсивности, обеспечивающим превосходный контраст при измерении отпечатков по Бринеллю. Объектив с 20-кратным увеличением и узкая головка объектива идеальны для суженных мест измерения. Функция „Auto-Motion“ увеличивает...

Инвертированный микроскоп Olympus GX-41 — универсальное оборудование, набор функций которого позволяет осуществлять весь спектр металлографических работ. При этом прибор компактен и удобен в эксплуатации.

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент.

MX61/MX61L — полупроводниковый инспекционный микроскоп, специально разработанный для исследования подложек и плат

Новейшая разработка в области лазерной конфокальной микроскопии.

Микроскоп может быть использован в различных областях промышленности, науки и образования с целью:Светлое поле, упрощенная поляризация.

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением...

Микроскоп отсчётный тип МПБ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскоп должен эксплуатироваться при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150-69: температура 25±10 0С, относительная...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20,...

Микроскоп отсчётный тип МПБ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскоп должен эксплуатироваться при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150-69: температура 25±10 0С, относительная...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением...

Микроскопы отсчётные МПБ предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20,...

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Особенностью этого класса является простота работы, непревзойденное качество оптики, а также интеграция цифровой камеры, специального программного обеспечения и полной моторизации микроскопа без тубуса.

Используя BX53P можно проводить исследования как в проходящем, так и в отраженном свете по методам орто- и коноскопии, используя все возможности серии BX3M и широкий набор компенсаторов.

Микроскоп CX31P является бюджетным решением и позволяет проводить исследования только в проходящем свете.

Портативный микроскоп необходим при исследовании/инспектировании крупногабаритных объектов, или иных объектов, из которых нельзя изъять образцы для исследования на стационарном микроскопе.

Портативный микроскоп необходим при исследовании/инспектировании крупногабаритных объектов, или иных объектов, из которых нельзя изъять образцы для исследования на стационарном микроскопе.

Прямые микроскопы предназначены для проведения исследований в прямом и/или отраженном свете. Общий диапазон увеличений зависит от модели микроскопа и варьируется от 12,5 до 1500 крат (в отдельных случаях до 3000 крат).

Прямые микроскопы предназначены для проведения исследований в прямом и/или отраженном свете. Общий диапазон увеличений зависит от модели микроскопа и варьируется от 12,5 до 1500 крат (в отдельных случаях до 3000 крат).

Стереомикроскоп Olympus SZ61 сочетает в себе инновационные технологии и отличный дизайн. Микроскоп имеет функцию плавного зуммирования анализируемых изображений. Благодаря используемой передовой оптике UIS2, аппарат получил современную цветопередачу, высокую четкость изображений и глубинную...

Стереомикроскоп Olympus SZX10 – это универсальный исследовательский прибор с модульной структурой. Благодаря модернизированной оптической системе аппарат получил мощную цветопередачу, высокую четкость изображения и большую разрешающую способность. Микроскоп используется для проведения...

Создан для ученых и других специалистов в области науки, разработки и контроля качества.

Современный стереомикроскоп Olympus SZX7, созданный для проведения контроля, требующего высокоразрешающих наблюдений, обладает модульной структурой. Благодаря новой оптике UIS2 аппарат имеет модернизированную цветопередачу, высокую четкость изображений и разрешение. Устройство широко используется...

Универсальный микроскоп Olympus GX51 является надежным и эргономичным представителем семейства инвертирующих микроскопов, предназначенных для решения всего спектра контрольно-измерительных и исследовательских задач в материаловедении (металлографике).Оборудование позволяет вести наблюдение в...

Оптико-цифровые микроскопы (Opto-digital microscopes®) – это новый класс микроскопов, который предлагает компания OLYMPUS.

предназначен для проведения исследований материалов в отраженном свете.

Новый микроскоп для материаловедения с уникальными характеристиками.