Сканирующий электронный микроскоп Apreo

Name: Сканирующий электронный микроскоп Apreo
SKU: art25202:apreo

Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием

Полное описание

Производитель

«FEI Company», США

Под заказ

Артикул: art25202:apreo

Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.

Цена по запросу

0 ₽

-+Купить

Запросить КП

Запросить видеодемонстрацию прибора

Обзор
Характеристики
Отзывы0

Сканирующий электронный микроскоп Apreo - высокопроизводительная платформа для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, в том числе, для работы с магнитными образцами. Традиционные сканирующие электронные микроскопы высокого разрешения обладают либо электростатическими линзами, либо с магнитной иммерсией. Впервые FEI объединяет оба способа в одном инструменте.

Преимущества данной компоновки выходят далеко за рамки производительности любой другой колонны. И тот и другой метод служит для формирования пучка в тонкий зонд для получения изображения при низких ускоряющих напряжениях и направления детектируемых электронов обратно через линзу в колонну. За счет комбинации магнитной и электростатической иммерсии в одной электронной пушке достигается более высокая разрешающая способность и добавляются уникальные возможности для фильтрации сигнала. Комбинированная электростатически-магнитная конечная линза обеспечивает разрешение 1,0 нм при 1 кВ (без активации функции замедления пучка или монохроматора).

Характеристики

Особенности	Электронная колонна высокого разрешения с полевой эмиссией Шоттки, включает: Высокостабильный источник полевой эмиссии Шоттки обеспечивает стабильные высокие токи в сочетании с высокой разрешающей способностью Комбинированная конечная линза: сочетание электростатического поля, безполевого магнитного и иммерсионной магнитной объективной линзы. Угол объективной линзы в 60°: позволяет наклонять большие образцы Автоматически очищаемые за счет подогрева диафрагмы обеспечивают стабильную работу Дифференциальная откачка через линзу для низкого вакуума уменьшает расщепление пучка электронов, что увеличивает точность анализа и разрешающую способность. Функция замедления пучка с диапазоном от -4000 В до +600 В Непрерывный контроль тока пучка и оптимизированный угол раскрытия конечной линзы Двухступенчатая технология отклонения пучка Простота в установке и настройке пушки, техническое обслуживание – авто отжиг пушки, авто старт, отсутствуют механических юстировок. Гарантированное время жизни источника: 12 месяцев.
Характеристики электронной пушки	Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, иммерсионный режим - 0,8 нм при 30кВ (STEM) - 0,9 нм при 15 кВ - 1,0 нм при 1 кВ - 1,2 нм при 500 В - 2,5 нм при 100 В Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля - 0,8 нм при 30 кВ (STEM) - 1,0 нм при 15 кВ - 1,3 нм при 1 кВ В режиме низкого вакуума, оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля - 1,2 нм при 15 кВ - 1,8 нм при 3 кВ
Предметный столик	Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм Воспроизводимость результатов: < 3,0 мкм (при наклоне 0°) Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +90° Максимальная высота образца: Расстояние 85 мм до точки Вцентрика Максимальный вес образца: 500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°) Максимальный размер образца: Ø122 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено) Стандартно поставляется уникальный стол-держатель для различных задач, на который можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°), при этом не требуется инструментов для установки образцов. Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками Держатель печатных плат и другие держатели по заказу
Рабочая камера	Внутренняя ширина: 340 мм Аналитическая рабочая дистанция: 10 мм Установка до трех детекторов EDS, два из которых расположены друг напротив друга (под углом 180°) Копланарное расположенные (в одной плоскости) EDS/EBSD и осью наклона столика
Детекторы	Apreo может регистрировать до четырех сигналов одновременно из любой комбинации из имеющихся детекторов или сегментов детектора. Тройная система детектирования (внутрилинзовая и внутри колонны) - Т1 – нижний внутрилинзовый детектор, разделенный на сегменты - Т2 – верхний внутрилинзовый детектор - T3 – внутриколонный детектор ETD – детектор вторичных электронов Верхарта-Торнли DBS – выдвижной сегментированный детектор ООЭ Детектор вторичных электронов для низкого вакуума DBS-GAD монтирующийся на линзу газовый аналитический детектор ООЭ STEM 3+ - выдвижной сегментированный детектор для просвечивающей микроскопии (BS, DF, HADF, HAADF) Инфракрасная камера для контроля положения образца Nav-Cam+ цветная цифровая камера для простой навигации по образцу
Вакуумная система	Безмасляная вакуумная система 1х220 л/с TMP (турбомолекулярный насос) 1хPVP (форвакуумный насос) 2 ионно-геттерных насоса Уровень вакуума в камере (высокий) < 6,3e–6 мбар (после 72 часов откачки) Время откачки: ≤3,5 мин Режим низкого вакуума (опционально) Давление в камере при низком вакууме от 10 до 500 Па Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками Держатель печатных плат и другие держатели по заказу
Дополнительные аналитические возможности	Система очистки образца/камеры: система криогенной чистки FEI Cryocleaner, интегрированная система плазменной чистки FEI Анализ: EDS, EBSD, WDS, CL, Raman Система быстрой загрузки образца QuickLoader Навигация: Навигационная камера, корреляционная навигация, программное обеспечение для сшивки MAPS Газовая инжекционная система (GIS) FEI: до 2 устройств (другие опции могут ограничить количество доступных систем GIS) для осаждения следующих материалов: - Платина - Вольфрам - Углерод Манипуляторы Криостолик Электрическое зондирование Электростатическая блокировка пучка
Управление системой	64-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows 7, клавиатура, оптическая мышь 24-дюймовый ЖК-монитор, WUXGA 1920 x 1200 (второй монитор – опция Настраиваемый графический интерфейс с возможностью выбора до 4-х одновременно активных окон Регистрация изображения Встроенная навигация Программное обеспечение для анализа изображения Функция отмены и повтора (после отмены) действия Гид пользователя для простых операций/приложений Джойстик (опционально) Многофункциональное контрольное устройство управления (опционально)
Получение изображений	Время получения изображения 0,025 – 25000 мкс/пикс. Размер до 6144 х 4096 пикс. Тип файла: TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах Технология сканирования SmartSCAN (до 256 интегрированных изображений в одном) DCFI (компенсация дрейфа)
Доступные программные функции	Система для автоматизированного получения больших изображений и корреляционной работы MAPS iFast для дополнительно автоматизации Программное обеспечение для архивации данных в сети Программное обеспечение для анализа изображений
Системные опции	Стандартно поставляется держатель для различных задач, уникальный тем, что устанавливается непосредственно на столик, и на него можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°) Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками Держатель печатных плат и другие держатели по заказу*
Требования по установке	Электропитание: - напряжение 100 - 240 В (+6%, –10%) - частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) - Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации Сопротивление заземления: < 0,1 Ом Условия эксплуатации: - температура (20±3) °C - относительная влажность не более 80% (без конденсата) - уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением: < 40 нТ асинхронные поля, < 100 нТ синхронные поля Габариты дверного проёма: 0,9 м (ширина) х 1,9 м (высота) Вес микроскопа с колонной: 980 кг Рекомендуется чистый азот для напуска в систему Сжатый воздух (4 – 6) бар. Должен быть чистый, сухой и не содержать масла. Система охлаждения - наличие Уровень шума (требуется обследование места установки) Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации) Виброизоляционный стол поставляется по доп. заказу