Ваш город:
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
ВЕЛМАС
  • 8-812-424-18-63
  • 8-800-250-18-63
  • Пишите нам через WhatsApp или Telegram и получайте мгновенный ответ в чате!

    +79112780168


    - Уточняйте цены на оборудование и услуги

    - Узнавайте о наличии товара на ближайшем складе

    - Запрашивайте информацию об актуальных акциях и спецпредложениях

0
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
Каталог товаров
Каталог товаров
Еще категории
Анализ любых проб, в т.ч. неметаллов и жидкостей
Полное описание
Производитель«Искролайн», Россия
Под заказ
Артикул: art28193:лиэс
Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.
Цена по запросу
-+Купить
Запросить КП
Запросить видеодемонстрацию прибора
  • Обзор
  • Характеристики
  • Отзывы0
«Искролайн», Россия

Лазерно-искровой анализатор для спектрального анализа металлов, сплавов, проволоки, горых пород, почв, керамики, стекла и др.

Уникальный комбинированный источник воз­буж­де­ния спектров, который сочетает лазерную искру и электрический искровой разряд. Такой подход значительно (в 3–10 раз!) улучшает метрологические характеристики (чувствительность и воспроизводимость).

Особенности спектрометра ЛИЭС:

  • Обладает всеми плюсами лазерного спектрометра, но лишён части его недостатков
  • Подходит для проведения:
    Исследовательских работ
    Геологических и экологических
    экспресс-анализов
    Сертификационных анализов
  • Анализируемые материалы:
    Металлы и сплавы
    Миниатюрные образцы (проволоки, миниатюрные детали, осколки твёрдых пород и т.п.)
    Порошки, спрессованные в таблетки (почвы, донные отложения, геологические пробы и т.п.)
    Жидкости и масла (пропитанные ими пористые материалы)
  • Определение более 70 химических элементов
  • Выполняет прочие измерения, присущие классическим лазерным спектрометрам

Уникальный настольный оптический эмиссионный спектрометр с комбинированным источником возбуждения спектров, сочетающим лазерную искру и электрический искровой разряд в воздухе, — ЛИЭС предназначен экспрессного спектрального анализа токонепроводящих образцов, анализа элементного состава твердых монолитов (стёкол, керамик, пластмасс, металлов, сплавов, гранитов и т.п.), различных прессованных порошков (включая почвы, породы, геологические образцы и т.п.). Спектрометр может быть применен для микроанализа неоднородных образцов (как по поверхности, так и по глубине), для анализа микро образцов, образцов сложной формы.

ЛИЭС может применяться в черной, цветной, порошковой металлургии; металловедении; горнодобывающей, горно-обогатительной и горно-перерабатывающей промышленности; геологии и геологоразведке; производстве строительных материалов; производстве особо чистых материалов; в экологии и охране окружающей среды; в сельском хозяйстве и пищевой промышленности; в криминалистических, медицинских и фармакологических лабораториях и др.

Уникальность комбинированного лазерно-искрового эмиссионного спектрометра состоит в том, что в отличие от классического лазерного спектрометра, в котором лазерная искра выполняет одновременно две функции: и абляции (извлечения анализируемого вещества из пробы), и возбуждения спектров извлеченных атомов и ионов, в спектрометре ЛИЭС применяется не один разряд, а два – лазерная искра и электрическая искра, которые делят между собой вышеуказанные функции: лазерная искра осуществляет абляцию, а электрическая искра служит источником возбуждения спектров атомов и ионов анализируемого вещества. Такой подход значительно (в 3 - 10 раз!улучшает метрологические характеристики спектрометра (чувствительность и воспроизводимость).

Комбинированный лазерно-искровой эмиссионный спектрометр (ЛИЭС) объединяет в себе достоинства лазерного, искрового и дугового спектрометров и не несет в себе их недостатков.
Так, по сравнению с классическим лазерным спектрометром, у комбинированного спектрометра ЛИЭС значительно лучшие метрологические характеристики.

По сравнению с ЛИЭС позволяет анализировать не электропроводящие материалы, как в виде твердых монолитов, так и в виде прессованных порошков и жидкостей. Добавляя к этому еще и возможность микроанализа (т.е. локального анализа) неоднородных образцов (как по поверхности, так и по глубине), а также возможность анализа микро образцов и образцов сложной формы. (Известно, например, что достоверный анализ на искровом спектрометре очень тонкой металлической проволоки из-за специфичности ее формы представляет значительные трудности, а на спектрометре ЛИЭС такой анализ осуществляется без проблем).

По сравнению с классическим дуговым спектрометром (с глобульной дугой), у комбинированного спектрометра ЛИЭС несколько проще пробоподготовка как порошковых проб (ограничивается прессованием), так и твердых монолитов. В спектрометре ЛИЭС отсутствует влияние состава электродов, между которыми формируется искра, в то время как в дуговом спектрометре влияние состава и формы (!) электродов на результаты анализа значительны. Кроме того, по сравнению с существующими дуговыми штативами из-за относительно небольших размеров аналитического плазменного отсека спектрометра ЛИЭС, последний легко может быть сделан вакуумируемым с последующим заполнением его аргоном, реализуя тем самым возможность анализа серы и фосфора на их классических аналитических линиях из области вакуумного ультрафиолета.

Изобретателем комбинированного лазерно-искрового эмиссионного спектрометра ЛИЭС является доктор физ.-мат. наук Скрипкин Арнольд Митрофанович('Лазерно-искровой спектроанализатор', патент на изобретение 2163370 от 07.04.2000г., Бюлл. изобр. № 5, 2001 г.).

Для спектрального анализа образцов на спектрометре ЛИЭС (в состав которого входит спектрограф 2S36501225) доступны любые спектральные линии в диапазоне 185 – 930 нм с разрешением 0.007 - 0.01 нм (в диапазоне 185 - 415 нм) и 0.04 - 0.06 нм (в диапазоне 415 - 930 нм).

Пределы обнаружения элементного спектрального анализа твердых веществ на спектрометре ЛИЭС по критерию «3σ» для большинства элементов лежат в диапазоне от менее 10-5 % (0.1 г/т) до 10-4 % (1 г/т).

Типичные времена многоэлементного анализа образцов – 1-3 мин. Отсутствует сложная пробоподготовка.

Настольный лазерный искровой эмиссионный спектрометр ЛИЭС зарегистрирован в Государственном реестре средств измерений России под номером 19155-00.

В настоящее время ведется разработка двух модификаций спектрометра ЛИЭС с малогабаритными спектрографами С-3326 (спектральный диапазон 170 - 445 нм, дисперсия 1.12 нм/мм и разрешение 0.02-0.03 нм) и 1S2133 (спектральный диапазон 185 - 515 нм, дисперсия 1.40 нм/мм и разрешение 0.03-0.04 нм). А также разрабатываются две модификации спектрометра ЛИЭС с широкодиапазонными спектрографами высокого разрешения и повышенной светосилой С-5036/5016 (спектральный диапазон 165 - 780 нм, дисперсия 0,55 нм/мм и разрешение 0.007 - 0.01 нм в диапазоне 165 – 335 нм и дисперсия 1,24 нм/мм и разрешение 0.016 - 0.023 нм в диапазоне 335 – 780 нм) и 2S36501640 (спектральный диапазон 165 - 940 нм, дисперсия 0,55 нм/мм и разрешение 0.007-0.01 нм в диапазоне 165 – 335 нм и дисперсия 1,55 нм/мм и разрешение 0.02 - 0.03 нм в диапазоне 335 – 940 нм).

Повышение светосилы и спектрального разрешения приведет к улучшению вышеуказанных пределов обнаружения в 3-10 раз.
Комбинированный лазерно-искровой эмиссионный спектрометр ЛИЭС состоит из лазерного аблятора на основе малогабаритного твердотельного импульсного лазера, источника возбуждения спектров на основе генератора искрового разряда, спектрографа 2S36501225, системы регистрации на 24-х линейных ПЗС детекторах, управляющего персонального компьютера со специализированным программным обеспечением, а также корпуса.


Особенности источника возбуждения спектров проистекают из принципа его действия, который заключается в следующем. Анализируемый образец располагается на подвижном трех координатном столике. На поверхность образца в выбранную оператором точку фокусируется лазерное излучение. Воздействие мощного лазерного импульса на поверхность образца приводит к появлению над ней факела из анализируемого вещества (лазерная абляция). В спектрометре ЛИЭС анализируемое вещество факела, поднимаясь над поверхностью образца, попадает в аналитический промежуток - область сильного импульсного электрического поля, формируемого расположенными над поверхностью образца электродами специальной конфигурации. Искровым генератором на электродах создается разность потенциалов и формируется искровой разряд в атмосфере буферного газа (воздух или аргон) и продуктов абляции анализируемого образца. В электрическом разряде происходит возбуждение атомов и ионов анализируемого вещества, эмиссионный спектр которых далее регистрируется системой регистрации спектрографа.

Предметом вышеуказанного изобретения Скрипкина А.М. как раз и являются, в частности, форма и расположение электродов, временнáя задержка между лазерным и искровым импульсами, отсутствие высокого напряжения на электродах (которое включается по команде управляющего устройства после пуска лазерного импульса), конструкция искрового генератора и др.

В результате, принцип двойного возбуждения и созданная конструкция аналитической зоны спектрометра обеспечили улучшение в 3-10 раз чувствительности и воспроизводимости измерений по сравнению с классическими лазерными анализаторами. Чувствительность и воспроизводимость измерений стали сопоставимы со значениями, присущими классическим искровым спектрометрам.


  • Спектрограф 2S36501225 – сдвоенный, т.е. на одном оптическом основании располагаются два спектрографа (с оптическими схемами Пашена-Рунге), оптически связанные через нулевой порядок дифракции первого спектрографа. Это наиболее рациональная конструкция для широкодиапазонных светосильных спектрографов.
  • Применяются высококачественные голограммные вогнутые дифракционные решетки, параметры которых специально оптимизированы для оптических схем спектрографов, применяемых в спектрометрах ООО 'Промоптоэлектроника'.
  • Доведенная до совершенства за два десятилетия технология изготовления спектрографов позволяет достичь практически предельных для данного типа спектральных приборов значений спектрального разрешения, например, в лазерно-искровых спектрометрах ЛИЭС спектральное разрешение составляет 0.007-0.01 нм (в диапазоне 185-415 нм) и 0.04-0.06 нм (в диапазоне 415-930 нм).
  • Эта же технология обеспечивает исключительно высокую температурную стабильность настройки спектрографов, причем без удорожающих прибор специальных систем термостабилизации. Остаточный уход спектральных линий составляет не более одного-двух пикселов (т.е. всего 10-15 мкм!) при изменении температуры на 10°С. Но даже этот небольшой уход автоматически (незаметно для оператора) корректируется.



Характеристики

Габариты спектрометра ЛИЭС (Д х Ш х В, мм): 950 х 700 х 550

Минимальная площадь, необходимая для размещения спектрометра: 3 кв. м.

Диапазон измерения концентраций, % от 10-5 – 10-4 до десятков
Относительная случайная погрешность (в зависимости от условий измерения), % 5 – 15
Лазерный аблятор Тип лазера YAG:Nd
Длина волны, нм 1064
Длительность импульса, до 100 мкс
Энергия, Дж/импульс 0.1 - 1.0
Частота повторения, Гц 0.1 - 0.3
Источник возбуждения спектра Тип разряда Высоковольтная искра
Напряжение, кВ 4 - 10
Рабочий спектральный диапазон, нм 185 – 930
Среднее спектральное разрешение, нм в диапазоне, нм
185 – 330 0.007 - 0.01
330 – 930 0.03 - 0.05
Средняя обратная линейная дисперсия, нм/мм в диапазоне, нм
185 – 330 0.56
330 – 930 1.8
Фотоприемники (линейные ПЗС-детекторы TCD1304DG, TOSHIBA), шт до 24
Электрическое питание (220+22-33) В, (50+2-2) Гц
Потребляемая мощность, не более, Вт 250
Масса, не более, кг 60
Производитель«Искролайн», Россия

Лазерно-искровой эмиссионный спектрометр ЛИЭС отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Категории: Стационарные анализаторы состава (спектрометры) Оптико-эмиссионные спектрометры

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий

ВЕЛМАС
Санкт-Петербург
Ваш город Санкт-Петербург?
Каталог товаров